Tillverkarens artikelnummer : | 8V182512IDGGREP |
---|---|
RoHs status : | Blyfri / Överensstämmer med RoHS |
Tillverkare / Brand : | Luminary Micro / Texas Instruments |
Lager skick : | 2101 pcs Stock |
Beskrivning : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Skicka från : | Hong Kong |
Datablad : | |
Leveransväg : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Artikelnummer | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Tillverkare | |
Beskrivning | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Ledningsfri status / RoHS-status | Blyfri / Överensstämmer med RoHS |
Tillgänglig kvantitet | 2101 pcs |
Datablad | |
Matningsspänning | 2.7 V ~ 3.6 V |
Leverantörs Device Package | 64-TSSOP |
Serier | - |
Förpackning | Tape & Reel (TR) |
Förpackning / Fodral | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Andra namn | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
Driftstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Antal bitar | 18 |
Monteringstyp | Surface Mount |
Fuktkänslighetsnivå (MSL) | 1 (Unlimited) |
Tillverkarens normala ledtid | 42 Weeks |
Logik typ | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Ledningsfri status / RoHS-status | Lead free / RoHS Compliant |
detaljerad beskrivning | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
Bas-delenummer | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
IC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536